MURA分析
 
可將MURA、品味的程度圖像化,將測定結果數值化。
 
可將輝度MURA的測定數值轉換成:日本半導體協會SEMI所定的SEMU值。
 
可應用於MURA量測、漏光量測、HOT SPOT等測定。
 
 
 
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