近場光源光學特性測定
 
測定波長範圍:可見光、紅外光。
 
可見光:輝度均勻性、色度均勻性。
   紅外光:能量均勻性。
 
晶片、封裝後等發光光源。
 
※ 備有詳細規格,歡迎來電或來信索取。
   
   
 
 
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